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新一代激光衍射粒度分析儀 LS 13 320 XR

LS 13 320 XR激光衍射粒度分析儀是一款全自動、高準確性、高分辨率、高重現性以及操作非常簡單的干濕兩用粒度分析儀，采用全程Mie光散射理論并提供Fraunhofer理論模型。LS 13 320 XR配備有多種新型的樣品進樣模塊，“即插即用”，滿足不同的分析要求，靈活便利；**的PIDS技術（***：4953978，5104221），真正實現10nm粒徑測量；直觀的軟件和觸摸屏設計，大大簡化了儀器的操作。LS 13 320 XR將為您開啟全新的測量體驗！

超高分辨率

不論單峰、雙峰還是多峰，不論納米、微米還是納微米，均可實現高分辨率的檢測

寬測量范圍：10nm-3500μm

提供真實（峰值）、高分辨率的測試數據，下限低至10nm，上限高達3500μm

升級版 PIDS 技術：更好解決納米測量挑戰

提高原始數據檢測精度，提高檢測器檢測垂直和水平偏振散射光的靈敏度，真正實現亞微米級粒度分析 - 以往極難達到的測量能力

多峰自動檢測

測量前無需估計粒度分布情況（比如多峰、窄分布），便可獲得真實的測量結果

簡單、直觀的操作軟件

? 從開始測量到獲得結果僅需 2 次點擊

? 包含一個集成的光學常數數據庫

? 隨時向您通報有用的用戶診斷報告

? 精簡的工作流不僅易于使用，更節省時間

驗證

這是《生產質量管理規范（GMP）》和其它法規要求所必須的。

LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析儀配備符合GMP要求的驗證程序，可滿足安裝驗證（IQ）和運行驗證（OQ）所需。