粉體行業(yè)在線展覽
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nanoSAQLa
直接聯(lián)系
大塚電子（蘇州）有限公司
江蘇
面議
大塚電子
nanoSAQLa
5077
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特點(diǎn)
只需一臺(tái)，輕松實(shí)現(xiàn)5檢體連續(xù)測(cè)量
低濃度到高濃度都可對(duì)應(yīng)
高速測(cè)量，標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間1分鐘
搭載了簡(jiǎn)單的測(cè)量功能 (1鍵測(cè)量)
內(nèi)置非浸泡型的cell block，無分注夾雜物
搭載溫度梯度功能
測(cè)量范圍（理論值）
粒徑 0.6nm～10μm
濃度范圍 0.00001～40％
溫度范圍 0～90℃*
仕樣
| 型號(hào) | 多檢體NANO粒徑測(cè)量系統(tǒng) |
|---|---|
| 測(cè)量原理 | 動(dòng)態(tài)光散射法 |
| 光源 | 高出力半導(dǎo)體激光*1 |
| 檢出器 | 高感光度APD |
| 連續(xù)測(cè)量 | 5檢體 |
| 測(cè)量范圍 | 0.6nm ～ 10μm |
| 對(duì)應(yīng)濃度 | 0.00001 ～ 40% *2 |
| 溫度 | 0 ～ 90℃ （有溫度梯度功能） *3 |
| 規(guī)格 | 遵照 ISO 22412：2017 |
| 遵照J(rèn)IS Z 8828：2013 | |
| 遵照J(rèn)IS Z 8826：2005 | |
| 尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
| 重量 | 約18 kg |
| 軟件 | 平均粒徑解析 （累積法解析） |
| 粒度分布解析 | |
| （Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法） 粒度分布疊寫 逆相關(guān)函數(shù)?殘差plot 粒徑monitor 粒徑顯示范圍 （0.1 ～ 106 nm） 分子量計(jì)算功能 |
*1 根據(jù)激光安全基準(zhǔn) （JIS C6802）級(jí)別區(qū)分，本儀器的安全級(jí)別為1級(jí)。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黃膽酸：～40%
*3 標(biāo)準(zhǔn)glass cell的批量測(cè)量的情況。
一次性cell或連續(xù)測(cè)量時(shí)， 15 ～ 40℃ （不對(duì)應(yīng)溫度梯度）
測(cè)量范例
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