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LA-ICP-MS 的量子級飛躍
J200LA-fs飛秒激光剝蝕進樣系統是LA-ICP-MS技術向高精度、高準確度、高靈敏度水平發展的重大突破。J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下，均勻剝蝕樣品成透明狀，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性，這是采用長脈沖激光技術無法達到的。
LA-ICP-MS 的量子級飛躍
J200LA-fs飛秒激光剝蝕進樣系統是LA-ICP-MS技術向高精度、高準確度、高靈敏度水平發展的重大突破。J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下，均勻剝蝕樣品成透明狀，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性，這是采用長脈沖激光技術無法達到的。
減少樣品的依賴性，比霧化技術精度高
J200LA-fs系列剝蝕樣品精度高，且沒有熱效應。而采用長激光脈沖的系統，會發生的多種熱過程，改變剝蝕樣品的數量和化學成分，如改變熱特性等；并且無論采用什么波長，如266nm， 213nm 或193nm， 為了準確定量的分析元素和同位素，需要高精度的、與測量樣品相匹配的標準物質。
J200LA-fs剝蝕均勻一致，剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學特性，無需高度匹配的標準物質，也能進行高精度、定量LA-ICP-MS測量。
均勻一致的粒徑確保高精度、高靈敏度測量
長激光脈沖系統產生的樣品顆粒大（常大于數微米），駐留在輸送管中，導致運輸效率低，并且降低了分析的靈敏度。大樣品顆粒還會在ICP-MS的瞬時信號中產生峰值，導致測量精度降低。J200系統產生的樣品顆粒均勻一致，且尺寸分布合理，一般在10-200nm，運輸效率高。這些到達ICP源的顆粒能完全被消解，產生穩健、恒定的瞬時ICP-MS信號。用戶可完全依靠J200系統輸送高質量的樣品顆粒到ICP-MS 系統。
元素和同位素的分餾*少
在LA-ICP-MS測量過程中引起元素或同位素分餾的兩大主要過程：（1）非化學計量物質剝蝕的熱過程；（2）大樣品顆粒在ICP源不完全消解。J200施加高能激光的時間比長脈沖系統短，*短達1/10000。J200LA-fs系統通過非熱過程，施加超高激光輻射剝蝕樣品，產生的顆粒能在ICP源完全消解，確保在測量過程中獲取高精度、穩定的元素或同位素信號。
高精度元素和同位素測量的保障
ASI公司的技術團隊擁有30多年激光剝蝕技術的基礎研究經驗和LA-ICP-MS方法的研究背景，也是世界**在LA-ICP-MS系統中采用飛秒激光脈沖，并實現其**性能的公司。J200LA-fs系統能完成**挑戰性的化學分析工作。來自ASI公司嚴謹的科研和技術支持是其它技術無法達到的。使用ASI公司的產品，意味著能直接和世界**的研究團隊交流，并得到專業的技術支持。
強大的∫ Integra軟件與ICP-MS儀器協同操作
J200LA-fs系統軟件∫ Integra功能直觀、帶圖形界面，易瀏覽不同的樣品區域，設立靈活的采樣方式。∫ Integra采用雙向通信控制，協同操作ICP-MS儀器達到了****的水平。∫ Integra軟件讓用戶通過基本單元“處方”來制定各個硬件工作的時間序列命令集，并通過串聯多個“處方”，讓系統自動完成各個測量工作。
硬件控制簡單、方便
∫ Integra軟件使J200LA-fs用戶簡單、方便地操作硬件部件。只需簡單點擊tab鍵，用戶即可檢查飛秒激光、氣流系統、光模塊、3-D操作臺、自動高度調節傳感器、樣品室等部件的工作狀態，不同用戶組可賦予不同的使用權限。
獲取勾邊樣品圖像，制定復雜的激光采樣模式
∫ Integra 軟件提供大的視頻窗口，顯示勾邊的、詳細的樣品圖像。用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式，包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網格或預先編制的模式。即使是形狀怪異的結構，采用∫ Integra的模式工具也可選定，并分析其元素或同位素。
雙照相系統掃描樣品
J200LA-fs 的兩個相機提供廣角和放大的樣品圖像。∫ Integra允許用戶先獲取樣品的廣角圖像，然后在圖像上掃視不同的位置，高倍放大選定點。
智能氣流控制，**限度地獲取ICP-MS等離子體的穩定性和分析性能
∫ Integra具備智能輸送和補充氣控制功能，使每種氣體按預定的方式達到設定值，同步開關確保穩定的ICP-MS等離子體狀態，防止等離子體火焰噴出。預設閥配置可選擇氬氣或氦氣作為載氣或緩沖氣。
“處方”功能讓系統自動運行
用戶可將多個硬件部件運行命令集合，并按時間順序排列，形成∫ Integra“處方”。制定完成的處方，以后也可以調用。多個處方可編制成組，自動順序執行，使測量工作高度自動化。
可簡單采用“recall”命令調用“處方”，重復實驗，也可復制部分“處方”，結合新的命令，完成新的采樣過程。
主要技術指標
| 激光器 | 工業級高頻Ytterbium diode飛秒激光器，343 nm和1030 nm，頻率可調，**10KHz |
| 能量控制 | 連續可調光學衰減器，集成激光能量監測單元 |
| 激光光閘 | 自動光閘保證激光能量穩定 |
| 激光脈沖能量(激光頭輸出) | **150μJ/脈沖 @ 343 nm* ，** 1mJ/脈沖 @ 1030 nm |
| 激光光斑大小控制 | 3-70微米，結合了自動光束擴展器和狹縫成像 光斑大小范圍取決于不同設備的型號，可用戶自定義光斑大小范圍 |
| 自動X-Y軸 | 100 mm X 100 mm 行程范圍，分辨率0.2微米 |
| 自動Z軸 | 35mm行程范圍，Z軸可以實現樣品自動高度調整，分辨率0.5微米 |
| 剝蝕點定位 | 紅色激光具有更好的信號精度，ASI的自動對焦**技術 |
| 樣品圖像 | 高分辨率的雙CMOS鏡頭，用于高倍放大和大視野預覽，支持光學變焦 |
| 樣品成像光源 | 泛光LED燈，同軸反射光和透明光源，正交十字光 |
| 氣體控制 | 雙路數字流量控制器，可選第三個流量控制器（用于氮氣或其他氣體） 電控兩向和三向閥，ASI**氣體控制單元 |
| 樣品室 | Flex™ 樣品室具有系列可更換的墊片，適合不同大小的樣品 Vertex™樣品室具有快速沖洗效率和大量樣品的運送能力 可用戶自定義樣品固定裝置，ASI**LIBS測量兼容性 |
| 與ICP-MS通訊 | 在J200和ICP-MS之間實現雙向控制 |
| LIBS檢測器 (僅適用于Tandem系統) | Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測器 |
| 儀器軟件 | Axiom LA系統操作軟件，ASI**的TruLIBS™發射光譜數據庫（用于Tandem系統） Clarity Femto數據處理軟件（處理LA-ICP-MS和LIBS的數據，進行定量計算/物質分類） |
| 激光安全等級 | 一級激光產品，樣品加載區域有光學安全隔離板，激光自鎖保護裝置 |
| 系統尺寸 | 70” (長) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (僅LA主機) 75” (長) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS檢測器) |
| 重量 | 600 lbs [272Kg](僅LA主機)；600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS檢測器) |
| 供電要求 | 110-240 VAC，50/60 Hz， 5A， 保險10A |
| 質保 | 所有硬件和軟件質保一年，飛秒激光器質保兩年 |
| 認證 | CE認證 |
| 可選項 | LA升級為Tandem系統 |
| 延保 | 可簽署多年質保和服務協議 |
* 通常作用在樣品表面的激光能量大約是20-80 μJ
應用案例
植物樣品表層及深層元素分布
采用飛秒LA-ICP-MS系統還可以對植物葉片進行深度的剖析。測量葉片內部不同部位的元素變化情況以及特定元素的分布情況。實驗使用飛秒激光器，10個脈沖，脈沖1至脈沖10表示葉片的表層至內部。
大米和糙米樣品外殼及內部砷元素的分布圖譜
大米是中國、韓國和日本等東亞諸國的主要農作物，大米中砷元素含量超標引發了很多食品安全問題。國際食品法典委員會標準中也明確規定鉛含量不得大于0.2mg/kg ，鎘含量不得大于0.1mg/kg，但仍然對砷元素含量無規定。為了建立相關標準，韓國科學技術研究院搜集了韓國市場上常見的100種大米和糙米樣品，分析其中砷元素的含量及分布作為相關標準制定的科學依據。研究結果表明，砷元素主要分布在糙米和大米樣品的表面，并存在砷元素含量明顯的向中心遞減趨勢。結論：砷元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低砷元素含量的主要手段。
產地：美國
BELMASS II
BSD-MASS
L820
Master 400
BELMASS
ZQJ-3000型
HESZKAT800
EXPEC 5231
ICP-MS 2000系列
熱分析 - 四極桿質譜儀 QMS 403 Aёolos? Quadro 聯用
DEMS
Master 400 質譜儀
