粉體行業(yè)在線展覽
Model sigma-5+
1-5萬元
日本nps
Model sigma-5+
93
不限
寬測量范圍:可連接到Loresta GX,測量范圍為10??至10?Ω。
比較器功能:在屏幕上標注范圍外的測量結(jié)果的測定點。
粉末測量功能:要測量粉末的體積電阻率,只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設(shè)備中即可。該裝置施加給定的壓力,同時測量粉末的電阻率和壓制密度。
技術(shù)參數(shù)
測量范圍:10?2至10?Ω。
樣品尺寸:最大300mm見方。
功能與應(yīng)用
應(yīng)用領(lǐng)域廣泛:適用于金屬、金屬薄膜、導電涂層、導電薄膜、片材等多種材料的電阻率測量。
膜厚和成分變化檢測:導電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
電子元件和材料開發(fā):可用于電子元件和材料的開發(fā)和質(zhì)量控制。
寬測量范圍:可連接到Loresta GX,測量范圍為10??至10?Ω。
比較器功能:在屏幕上標注范圍外的測量結(jié)果的測定點。
粉末測量功能:要測量粉末的體積電阻率,只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設(shè)備中即可。該裝置施加給定的壓力,同時測量粉末的電阻率和壓制密度。
測量范圍:10?2至10?Ω。
樣品尺寸:**300mm見方。
應(yīng)用領(lǐng)域廣泛:適用于金屬、金屬薄膜、導電涂層、導電薄膜、片材等多種材料的電阻率測量。
膜厚和成分變化檢測:導電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
電子元件和材料開發(fā):可用于電子元件和材料的開發(fā)和質(zhì)量控制。
TS7400T
TS7400型
TS-V4CSX型
TS-V4CSX
WDV型
SK-350TV/SK-350TVS
ELSZneoSE
nanoSAQLA AS50
ELSZ-2000ZS
ELSEneoSE
nanoSAQLA
ELSZneo