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SediGraph III Plus 5125全自動Ｘ光沉降粒度分析儀

• 獨(dú)特、可靠且成熟的粒度分析儀

• 在過去的 50 多年，是全球沉降粒度分析領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)

• 根據(jù)斯托克斯定律確定粒徑

• 粒徑分析時實(shí)時監(jiān)測顆粒沉降過程并查看報告的粒徑結(jié)果

• 全自動運(yùn)行并通過先進(jìn)的軟件界面實(shí)現(xiàn)控制

• 可選配 MasterTech 自動進(jìn)樣器實(shí)現(xiàn)高通量測試

• 礦業(yè)、地質(zhì)和陶瓷等眾多主流行業(yè)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

• 符合 ASTM B761-06 和先進(jìn)陶瓷委員會 C28 的要求

SediGraph III Plus 基于直接檢測質(zhì)量濃度確定粒度分布和統(tǒng)計數(shù)據(jù)，例如 D10、D50 和 D90。 只需一鍵即可獲得基本和高級報告。 SediGraph III Plus 可選配 MasterTech 自動進(jìn)樣器，連續(xù)監(jiān)測生產(chǎn)過程，并將數(shù)據(jù)推送到網(wǎng)絡(luò)或云端以供遠(yuǎn)程訪問。

性能與優(yōu)點(diǎn)：

智能設(shè)計特性

SediGraph III Plus 粒度分析儀先進(jìn)的設(shè)計確保了測量的重復(fù)性和使用的便利性。 全新功能使得儀器的操作和維護(hù)更加輕松，并且能夠確保對同一樣品在任意一臺 SediGraphs 儀器上都能獲得可靠、重現(xiàn)的結(jié)果。

設(shè)計改進(jìn)包括

• 完整的顆粒分析，能夠確保對樣品中的所有顆粒進(jìn)行分析，包括粒徑小于 0.1 μm 的部分

• 能夠與其他粒徑測量方法獲得的數(shù)據(jù)合并，從而將數(shù)據(jù)報告范圍擴(kuò)展到 125000 μm (125 mm)，在地質(zhì)學(xué)方面有很好的應(yīng)用

• 自下而上地掃描沉降池，能夠準(zhǔn)確地獲取快速沉降顆粒的總數(shù)，同時盡可能縮短細(xì)顆粒分離所需的時間

• 全自動操作模式能夠提高樣品分析通量，并且減少人為操作步驟，以降低由人為操作造成的測量誤差

• 溫控分析可確保在整個分析過程中液體的性質(zhì)保持恒定，獲得精確的分析結(jié)果

• 多種分析速度，可根據(jù)實(shí)際需要選擇速度和分辨率

• 實(shí)時顯示，能夠監(jiān)控當(dāng)前分析的累積質(zhì)量圖，以便根據(jù)需求即時修正分析程序

• 統(tǒng)計過程控制（SPC）報告能夠跟蹤過程性能，便于立即對波動變化作出響應(yīng)

• 多圖疊加功能，能夠?qū)Ψ治鼋Y(jié)果進(jìn)行可視化比較，例如，與參考樣品或基線疊加，或?qū)⑼环治鰯?shù)據(jù)的兩種不同類型結(jié)果圖疊加

• 數(shù)據(jù)比較圖，能夠以圖表形式顯示兩組數(shù)據(jù)集之間的數(shù)學(xué)差（與參考樣品圖的差異）或某個數(shù)據(jù)點(diǎn)值高于或低于容差范圍的程度（超標(biāo)圖）

• 多分析儀控制，允許使用同一臺計算機(jī)控制兩臺 SediGraph ，節(jié)省寶貴的實(shí)驗(yàn)室空間，方便數(shù)據(jù)存儲

更多信息，歡迎咨詢。

Micromeritics 是提供表征顆粒、粉體和多孔材料的物理性能、化學(xué)活性和流動性的全球高性能設(shè)備生產(chǎn)商。我們能夠提供一系列行業(yè)前沿的技術(shù)，包括比重密度法、吸附、動態(tài)化學(xué)吸附、壓汞技術(shù)、粉末流變技術(shù)、催化劑活性檢測和粒徑測定。

公司在美國、英國和西班牙均設(shè)立了研發(fā)和生產(chǎn)基地，并在美洲、歐洲和亞洲設(shè)有直銷和服務(wù)業(yè)務(wù)。Micromeritics 的產(chǎn)品是全球具有創(chuàng)新力的知名企業(yè)、政府和學(xué)術(shù)機(jī)構(gòu)旗下 10,000 多個實(shí)驗(yàn)室的優(yōu)選儀器。我們擁有專業(yè)的科學(xué)家隊(duì)伍和響應(yīng)迅速的支持團(tuán)隊(duì)，他們能夠?qū)?Micromeritics 技術(shù)應(yīng)用于各種要求嚴(yán)苛的應(yīng)用中，助力客戶取得成功。

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