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FEI Quanta 系列包括六款可變壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡 (ESEM)。所有這些產品均可滿足工業(yè)工藝控制實驗室、材料科學實驗室和生命科學實驗室的多種樣本和成像要求。

Quanta 系列掃描電子顯微鏡屬于多功能、高性能儀器，并具有高真空、低真空和 ESEM 三種模式，能夠處理的樣本類型之多堪稱 SEM 系統(tǒng)之*。所有 Quanta SEM 系統(tǒng)均可配備分析系統(tǒng)，比如能量色散譜儀、X 射線波長色散譜儀以及電子背散射衍射系統(tǒng)。此外，場發(fā)射電子槍 (FEG) 系統(tǒng)含有一個用于明場和暗場樣本成像的 S/TEM 檢測器。SEM 系統(tǒng)中的另一個可變配置是電動工作臺的尺寸（分 50mm、100mm 和 150mm 三種）以及電動 Z 軸行程的大小（分別為 25mm、60mm 和 65mm）。Quanta 650 和 650 FEG 都設計了大標本室，能夠分析和瀏覽大型標本

隨著 Quanta 50 系列的推出，現(xiàn)在的 Quanta SEM 系列更為靈活。對于材料科學來說，這些全新儀器可滿足對眾多類型材料進行研究以及表征結構和成分的需求。FEI Quanta™ 50 系列十分靈活，功能多樣，能夠應對當今眾多研究領域的挑戰(zhàn)。觀測任意樣本并獲得所有數(shù)據(jù) - 表面和成分圖像可與配件結合起來，確定材料屬性和元素成分。