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WITec 原子力顯微鏡集成了科研級光學顯微鏡，提供高級光學觀測、簡便的懸臂梁準直和高分辨樣品研究。

通過不同照明與探測技術的光學觀測（例如明場，暗場，偏振，熒光等），用戶可以輕易地選定感興趣的區域來進行 AFM 測試。通過簡單地旋轉物鏡轉輪，用戶可以在傳統顯微鏡與 AFM 模式間快速切換。

WITec 的 AFM 物鏡可直接觀測樣品與懸臂梁針尖，實現直觀的精準探針定位。alpha300A 系統配備極度線性且精確的電容反饋控制掃描臺 (TrueScan™ 技術)，實現整個掃描范圍上超高的精度控制。

WITec alpha300 A原子力顯微鏡系統具有獨特的模塊化設計和操作簡單等特點，已成為材料研究，生命科學和納米技術等領域的重要表征手段。支持所有標注的AFM模式，同時具有優越的兼容性和擴展性，可升級為共聚焦光學顯微鏡、共聚焦拉曼顯微鏡和掃描近場光學顯微鏡。