粉體行業在線展覽
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上海繪吉電子科技有限公司
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布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過的TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供全球保證！
先進的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。
技術指標：
Theta/theta 立式測角儀
2Theta角度范圍：-110~168°
角度精度：0.0001度
Cr/Co/Cu靶，標準尺寸光管
探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器
儀器尺寸：1868x1300x1135mm
重量：770kg
應用
物相定性分析
結晶度及非晶相含量分析
結構精修及解析
物相定量分析
點陣參數精確測量
無標樣定量分析
微觀應變分析
晶粒尺寸分析
原位分析
殘余應力
低角度介孔材料測量
織構及ODF分析
薄膜掠入射
薄膜反射率測量
小角散射
Revontium
Lattice 系列 高功率X射線
N80
VANTA
ScopeX PILOT
逸出功能譜儀
SAXSpoint 700
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
