粉體行業在線展覽
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深圳市易捷測試技術有限公司
日本
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ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的*終生產過程中的質量保證都是必不可少的。
HANWA是EOS/ESD標準委員會的成員，積極參與制定國際標準。
漢瓦是日本**的ESD測試儀制造商，并在世界范圍內提供產品和服務。
Hanwa CDM測試機
l符合JEDEC、ESDA、JEITA ，AEC，EIAJ），
l可快速轉換不同標準的測試
l臺式尺寸，緊湊，準確可靠的CDM測試儀。
l 配備的CCD攝像機
l 提供FI-CDM和D-CDM模式。
l 可以測量每個引腳的電容。
尺寸：W575 x D400 x H300 Weight 35Kg Compact Desktop Size
符合所有主要國際標準：
Standard | StandardNumber | Method | Calibrationtool | |
1 | ESDA/JEDEC JointStandard | ANSI/ESDA/JEDECJS-002-2014 | FI-CDM | Small/Largecoin(disk) |
2 | JEDEC | JESD22-C101F | FI-CDM | Small/Largecoin(disk) |
3 | ESDA | ANSI/ESDS5.3.1-2009 | FI-CDM orD-CDM | FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module(*2) |
4 | AEC | AEC - Q100-011 Rev-C1 | FI-CDM orD-CDM | FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module(*2) |
5 | JEITA | JEITA ED-4701/302 (Method305C) | D-CDM | Small/Largecoin(disk) + FR-4board |
XRD-晶向定位
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