掃描電子顯微鏡
SEM3100

SEM3100具有出色的成像質量和豐富的擴展性，將鎢燈絲掃描電子顯微鏡的可用性、易用性發揮到**。分辨率可達3 nm，超大樣品倉，可容納**直徑為370 mm的樣品，以及諸多細節功能設計和特色功能，助您在顯微成像的世界中盡情探索。

SEM3100是一款高性能的掃描電子顯微鏡，擁有超高的分辨率和出色的成像質量。放大倍率連續可調，在不同的視場范圍下均可得到高亮度的清晰圖像。大景深，成像富有立體感。配備的超大樣品倉和低電壓模式，極大地擴展了SEM3100的應用范圍。

豐富的擴展性

掃描電子顯微鏡不只用于表面形貌的觀察，還可以進行樣品表面的微區成分分析。SEM3100擁有超大的樣品倉，接口豐富，除支持常規的二次電子探測器（ETD）、背散射電子探測器（BSED）、能譜儀（EDS）外，也預留了諸多接口，諸如電子背散射衍射（EBSD）、波譜儀（WDS）、陰極熒光（CL）等探測器都可以在SEM3100上進行集成。
背散射探測器

二次電子成像和背散射成像對比。背散射像下，樣品的荷電效應明顯減弱，并且具有很好的成分襯度，適合進行成分觀察。
[金屬表面污染物] [金屬鍍層] [口腔種植材料]
能譜分析

水泥建筑材料SE和EDS分析結果，加速電壓15 kV
*微量Au元素為噴金后的鍍層